ICE Asia 2014明日盛大開幕，決不容錯過！
2014-09-16 10:05 來源：cpp114 責編：徐赳赳
- 摘要：
- ICEAsia2014第四屆國際紙品膠片薄膜加工印刷技術、設備及材料博覽會將于明日盛大開幕，展會持續三天（9月17日至9月19日），屆時將有來自涂布、復合、分切、復卷和凹柔版印刷技術領域的頂尖展商展示他們的得意之作。
【CPP114】訊：ICE Asia 2014第四屆國際紙品膠片薄膜加工印刷技術、設備及材料博覽會將于明日盛大開幕，展會持續三天（9月17日至9月19日），屆時將有來自涂布、復合、分切、復卷和凹柔版印刷技術領域的頂尖展商展示他們的得意之作。
本屆ICE Asia 2014，展商Sensory Analytics將會第一次帶來革新的Spec Metrix涂布測厚、涂料側重系統。Spec Metrix系統包括在線薄膜、涂層厚度檢測；Spec Metrix實驗系統可以針對實驗樣本和終端產品做非接觸式的實時測厚監控。與多數的光學檢測設備不同，spec Metrix系統的處理對象不但可以針對透明產品，對非透明產品也同樣適用，其涂層檢測厚度范圍為200納米至250微米。Spec Metrix系統旨在為客戶提供高效精準的實時檢測數據，該系統的檢測部不使用放射性射線和X射線，從而免去了客戶額外的行政監管成本及負擔。
與此同時，展會現場的買家見面會和上海有機及印刷電子論壇，將有數十場精彩演講輪番上演。包括KROENERT帶來“印刷或涂布——印刷電子技術的何去何從？”；九州浩德“帶來涂布技術簡介”；申克博士帶來“最佳投資回報和零缺陷的視覺檢測系統”；汕頭華鷹帶來“功能性涂層加工設備——設備功能化、部件模塊化、核心技術差異化”；博斯特帶來“印刷電子領域薄膜的網版處理及控制”等等，歡迎您蒞臨現場。
本屆ICE Asia 2014，展商Sensory Analytics將會第一次帶來革新的Spec Metrix涂布測厚、涂料側重系統。Spec Metrix系統包括在線薄膜、涂層厚度檢測；Spec Metrix實驗系統可以針對實驗樣本和終端產品做非接觸式的實時測厚監控。與多數的光學檢測設備不同，spec Metrix系統的處理對象不但可以針對透明產品，對非透明產品也同樣適用，其涂層檢測厚度范圍為200納米至250微米。Spec Metrix系統旨在為客戶提供高效精準的實時檢測數據，該系統的檢測部不使用放射性射線和X射線，從而免去了客戶額外的行政監管成本及負擔。
與此同時，展會現場的買家見面會和上海有機及印刷電子論壇，將有數十場精彩演講輪番上演。包括KROENERT帶來“印刷或涂布——印刷電子技術的何去何從？”；九州浩德“帶來涂布技術簡介”；申克博士帶來“最佳投資回報和零缺陷的視覺檢測系統”；汕頭華鷹帶來“功能性涂層加工設備——設備功能化、部件模塊化、核心技術差異化”；博斯特帶來“印刷電子領域薄膜的網版處理及控制”等等，歡迎您蒞臨現場。
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